高精密測試與自動化量測儀器專家益和股份有限公司,針對最新推出的線材測試儀器8740與傳統測試機CT8681在量測過程中瞬間導通測試提出分析。

益和公司表示,瞬間導通不良是指當待測線材一般項目測試完成後,作搖擺測試時,突然接點導通電阻有變化過大的情況,但在其他角度時又恢復正常,這種現象稱為瞬間導通不良。一般導通不良的原因大致是線材材質不好,接點氧化,端子與接點箝夾不對位,接點冷焊等。而瞬間導通不良的原因大致冷焊,斷線後芯絲搭連,端子與接點箝夾鬆動等。

MICROTEST 8740在量測技術上使用高端32Bit True-RMS DSP(數位信號處理器),有別於一般傳統測試機在量測時所使用的ADC(類比數位轉換積分器)。除了32位元的資料提高相當的精準度外,對於信號處理的速度也能增快數十倍。

在瞬間導通功能上8740採用更快速的類比開闢作切換量測,以減少繼電器跳動造成接觸點的磨損,其掃瞄速度比傳統機器快15倍,並可單獨設定規格而不與一般導通規格共用。8740是以前後兩次的量測值差做為判斷標準,並設定時間來做測試,而傳統機器則是設定最大導通值及掃瞄次數做測試,8740量測一組導通電阻約為2mS,而8730與傳統測試機則要30mS。

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