半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)因應Wi-Fi 6E、5G新無線收發器、LTE-A Pro及物聯網(IoT)通訊裝置需求續增,推出V93000平台新一代Wave Scale RF通道卡,可大幅降低測試成本,加快射頻(RF)半導體上市時間、並奠定未來5G新無線裝置測試基礎。

愛德萬測試表示,此產品以高產能的最佳化架構設計,配備4套完整射頻子系統、每張都具備32個雙向射頻埠,擁有高度平行多元件同測及元件內部平行測試能力。可在V93000平台中配置多達6張卡,相當於能進一步擴充至192個射頻埠。

愛德萬測試V93000事業單位總經理暨執行副總Jurgen Serrer表示,此產品在單一通道卡中具備多個獨立子系統,專為降低新一代Wi-Fi 6E裝置生產成本、提升成本效益而設計,也預先為將來的5G和Wi-Fi通訊晶片裝置測試奠定基礎。

(時報資訊)

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