半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)發表最新多功能H5620ES工程測試系統,針對現今實驗室環境DDR4、次世代DDR5和低功率LPDDR裝置進行高速預燒及測試。由於精簡配件數量、縮短預燒及測試間的所需時間,可降低5G應用先進記憶體裝置的測量成本。

愛德萬測試表示,此款工程測試系統能針對DDR4和DDR5進行平行測試,並容納頻率100-MHz、資料傳輸率200Mbps的記憶體晶片,針對產品開發工作進行使用優化,精巧的設計能節省空間,讓實驗室環境更機動。

愛德萬測試指出,H5620ES跟H5620生產單元都採用FutureSuite作業系統,測試波形相同。並支援預先測試(pre-testing routines),在轉移到H5620測試機前,可先在H5620ES系統進行檢查,藉以縮短生產周期時間。

愛德萬測試記憶體ATE事業群副總Takeo Miura表示,快速成長的5G市場對最新資料儲存IC的需求量大增,此次新發表的H5620ES系統能協助業者,大幅精簡產品開發與品質提升所需要的成本。H5620ES工程系統預計於本會計年度第二季開始出貨。

(時報資訊)

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