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以下是含有advantest的搜尋結果,共13

  • 《科技》Astronics系統級測試業務,愛德萬完成收購

     半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)宣布,完成對Astronics商用半導體系統級測試事業部(簡稱「測試系統」)收購案,目前已成為愛德萬測試美國子公司Advantest America的全資子公司,並以新成立的實體Advantest Test Solutions公司營運。

  • 《科技》韓國半導體展,愛德萬測試秀5G解決方案

    2019年韓國國際半導體展(SEMICON Korea)將在23~25日於南韓首爾市國際會展中心舉行,半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)將展示多種先進的IC測試及晶圓檢測解決方案,包括可連結5G的最新半導體測試解決方案。

  • 《科技》愛德萬測試總裁吉田芳明,躋身半導體產業名人堂

     半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)表示,公司總裁暨執行長吉田芳明(Yoshiaki Yoshida),獲列為2018晶片製造業ALL STAR企業名人,躋身VLSI Research晶片歷史中心名人堂,與半導體產業最知名、最有貢獻的名人共同並列。

  • 《科技》愛德萬測試主辦,VOICE開發者大會報名開跑

     半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)宣布,公司舉辦的VOICE 2019開發者大會已開始開放報名,今年會議主題為「洞悉連網世界與其中奧秘」,並將分別於5月14~15日在亞利桑那州的斯科茨代爾、以及5月23日在新加坡舉行。

  • 《科技》愛德萬測試收購Astronics系統級測試業務

    半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)宣布將斥資1.85億美元(約新台幣57.16億元)、外加依特殊業績表現最高達3千萬美元(約新台幣9.27億元)的績效獎金,併購Astronics商用半導體系統級測試事業部,目前已進入最後協議階段。 \n \n愛德萬測試表示,Astronics商用半導體系統級測試事業部,為半導體產品及模組提供系統級測試,對電子產品製造商是非常關鍵的測試方法。此次併購對已位居自動化測試設備〈ATE〉解決方案領導地位的愛德萬測試如虎添翼,可擴大在系統級測試領域版圖。 \n \n愛德萬測試總裁兼執行長吉田芳明表示,公司將為廣大客戶群提供更強而有力的測試解決方案,並藉由豐富、擴展測試設備與測量解決方案,持續在瞬息萬變的半導體價值鏈中,顯著增加顧客價值。 \n \n吉田芳明指出,斥資併購Astronics商用半導體系統級測試事業部,愛德萬測試將大幅提升測試系統技術開發能力、技術人才,並吸取近期在新興測試領域成功的客戶經驗,顯示公司擴展整體半導體價值鏈測試及測量解決方案的決心。 \n \n吉田芳明表示,此次併購案讓公司能更佳、更即時的回應半導體客戶成長需求,相信測試系統能藉由愛德萬測試的全球版圖、顧客群及資源獲益。公司期待收購測試系統,能在研發新解決方案有更顯著成就,為顧客、員工及股東帶來更大價值。 \n \nAstronics商用半導體系統級測試事業部總部位於加州爾灣,合併後將完全成為愛德萬測試美國分公司子公司,並由新成立的Advantest Test Solutions負責營運。此交易預計將於年底前完成。

  • 《科技》快閃記憶體峰會,愛德萬測試秀SSD測試方案

    《科技》快閃記憶體峰會,愛德萬測試秀SSD測試方案

    年度快閃記憶體高峰會(Flash Memory Summit)7~9日於加州舉行,半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)除採用MPT3000測試機台,展示對PCIe Gen 4固態硬碟(SSD)的最新解決方案,並將發表2篇技術論文。 \n \n愛德萬測試表示,此次展示針對PCIe Gen 4 SSD開發製造而設計的單一系統測試解決方案,優勢在於運用PCIe Gen 3測試解決方案中,已通過驗證的測試架構和軟體,並免除等待第三方Gen 4應用廣泛商用的時間,能幫助客戶加速次世代SSD產品的上市期程。 \n \n愛德萬測試亦將在本屆峰會發表2篇技術論文,包括8日針對測試/效能分析議程,以「診斷發生於測試期間的SSD故障問題」為題發表演說,分享如何藉由蒐集、分類和分析來自DUT與測試設備的資訊,找出裝置故障的原因。 \n \n至於今(9)日舉行的測試議題議程中,愛德萬測試的技術專家則將針對「雙埠NVMe SSD測試」進行分享,涵蓋具備多訊號路徑、且能同步連結2個主機的裝置,這類裝置性能在企業儲存市場大獲青睞。

  • 《科技》愛德萬測試拔頭籌,推全新SSD測試解決方案

    《科技》愛德萬測試拔頭籌,推全新SSD測試解決方案

    半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)領先業界,運用已通過嚴謹測試的MPT3000平台,發表針對PCIe Gen 4固態硬碟(SSD)的開發、除錯與量產全新整合式測試解決方案,將有助於SSD製造商加速新產品的上市時程。 \n \n愛德萬測試表示,MPT3000平台系統已獲PCIe Gen 3、SATA與SAS SSD製造大廠採用,可能涵蓋PCIe Gen 4裝置的所有測試需求,包括進行工程測試、可靠性驗證測試(RDT)、生產測試,毋須耗時等待第三方PCIe Gen 4 SSD應用上市。 \n \n愛德萬測試指出,藉由提供客戶從設計到製造的完整測試流程,新解決方案能大幅簡化過渡到下一世代裝置的進程,且使用與愛德萬測試PCIe Gen 3解決方案相同的測試架構與軟體,為SSD製造業者開拓風險最低、速度最快的產品上市途徑。 \n \n愛德萬測試系統級測試副總Colin Ritchie表示,為因應各式各樣的SSD協定與規格,公司推出模組化MPT3000平台,且在功能方面更上層樓,能協助客戶驗證和測試最新一代PCIe記憶體。 \n \nColin Ritchie指出,MPT3000 PCIe Gen 4產品已經上市,並已開始出貨給客戶。本系統具備高度彈性,再加上tester-per-DUT架構和硬體加速特點,可成為所有工程、量產和內建自我測試電路(BIST)應用最理想的單一系統解決方案。

  • 《科技》SEMI High Tech U學習營,愛德萬測試贊助參與

    半導體測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest)宣布攜手SEMI(國際半導體產業協會),成為首屆「SEMI High Tech U」學習營活動四大企業贊助商之一,並參與3個項目。此次SEMI High Tech U將與2018 SEMICON West展覽會同步於10~12日在舊金山舉行。 \n \nSEMI High Tech U課程最早在2001年由SEMI基金會(SEMI Foundation)籌辦,有助於高中生在全球半導體產業探索未來職涯的可能性。學生在活動期間將可參與將科學、科技、工程和數學(STEM)概念應用在現今世界的實作活動,以及參觀部分參展廠商攤位。 \n \nSEMI High Tech U各項活動與所有用品皆免費提供給符合資格的學生,錄取條件包括年紀需介於15~17歲、學業平均成績表現優秀、態度積極進取、具團隊合作精神、承諾3天課程皆不缺席,並展現對於科技產業工作的興趣或天賦。 \n \n愛德萬測試指出,此次將參與SEMI High Tech U的3個項目,包含講授愛德萬測試與KLA-Tencor共同規畫的人工智慧(AI)與物聯網(IoT)課程內容、安排學生練習面試,以及主持最後一天課程。 \n \n愛德萬測試全球行銷傳播副總裁司儀Judy Davies表示,迅速的創新腳步顯示半導體產業背後的推動力,正來自於不斷湧現的新想法與新參與者,公司很榮幸能參與並贊助此項卓越的教育推廣活動。 \n \nSEMI基金會執行長Leslie Tugman則表示,透過SEMI會員企業自發性提供的資源,如愛德萬測試強力贊助、積極參與此活動,並協助創想課程內容,將使High Tech U得以成為半導體產業未來成員的指路明燈。 \n \n

  • 《科技》東南亞SEMICON,愛德萬測試秀ATE解決方案

    2018東南亞國際半導體展(SEMICON Southeast Asia)將自明(22)日起連3天於馬來西亞首都吉隆坡盛大舉行,半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)將展示ATE解決方案等先進產品與服務、並發表論文,同時亦為此次大會銀級贊助商。 \n \n愛德萬測試表示,將在展場展示革命性的EVA100量測系統,該系統應用範圍廣,從工程到量產環境皆適用,且擴充性佳、能同步控制多重測試功能,執行高精準度量測任務,為客戶提升測試效率,縮短產品上市時間。 \n \n此外,愛德萬測試亦將展示創新CloudTesting服務,為半導體設計、電子零件研發、原型測試、失效分析和學術研究,提供成本效益高的隨選測試解決方案。而具備自動元件上載與卸載以及主動式溫度控制(ATC)功能的M4171可移動、Single-site分類機亦將亮相。 \n \n23日舉行的「IC失效分析與缺陷特徵論壇」,愛德萬測試將發表「以高解析度時域反射技術檢測3D晶片缺陷特徵」論文,至於24日的「產品與系統等級測試論壇」,亦將發表「解決電動車大功率類比IC測試的強烈需求」論文。 \n \n

  • 《科技》韓國半導體展,愛德萬測試新解決方案

    SEMICON Korea韓國國際半導體展將在1月31日至2月2日於首爾COEX會展中心登場,半導體設備測試供應商愛德萬測試(Advantest)將展示創新測試解決方案,也是今年展會及期間產業領袖餐會的白金級贊助商。 \n \n愛德萬測試表示,將在今年展會中展示先進IC測試解決方案,包括專為次世代RF IC設計的V93000 Wave Scale平台、針對高速記憶體IC測試的V93000 HSM16G系統,以及為顯示器驅動IC(DDI)打造的T6391測試機台。 \n \n愛德萬測試亦將展示T2000平台的各種配置,包括因應物聯網(IoT)裝置量少但高度整合的系統級測試需求、為PMIC和24位元音訊解編碼器測試需求、以及用於高速CMOS影像感測器測試、以及IC高階測試介面等產品。 \n \n在創新測試解決方案方面,愛德萬測試將展示由EVA100測量系統與HA7200組成的溫度與壓力測試單位,可用於類比、數位和混合訊號元件量產級測試,專為測試高效能通用快閃儲存裝置和固態硬碟(SSD)設計、及瞄準SSD測試需求的測試機台等產品。 \n \n此外,愛德萬測試亦將展出次世代記憶體IC解決方案,鎖定行動應用和伺服器使用。同時,亦將展示探針卡、高速記憶體裝置介面及電子束度量與微影解決方案,包括能滿足1X奈米節點技術所需解析度的電子束微影工具,以及各式掃描式電子顯微鏡(SEM)度量系統。 \n \n而愛德萬測試的Ok Su Kim,亦將在31日下午舉行的測試論壇,發表「第五代RF測試解決方案」技術論文。

  • 《科技》東南亞半導體展,愛德萬測試秀新解決方案

    東南亞國際半導體展(SEMICON Southeast Asia)將於25~27日於馬來西亞檳城體育館(SPICE Arena)登場,半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)除為此次大會的銀級贊助商,並將以「量測互連網世界及其事物」為主題,展示最新半導體測試解決方案。 \n \n愛德萬測試此次將展示EVA100量測系統,採用訴諸直覺的圖形化輔助使用者操作介面(GUI),不需要複雜的程式語言,且無論是針對設計或產品的量測作業,均採用相同測試序列,客戶可在整個作業過程中建立標準化量測環境,大幅縮短產品上市時程。 \n \n此外,愛德萬測試將在26日舉行的「IC失效分析論壇」中,發表「運用超高解析度TDR系統之高密度LSI失效分析技術」,27日的「產品與系統測試論壇」則將發表「物聯網──創造經濟合算的多測試埠RF解決方案」。

  • 《科技》首爾SEMICON,愛德萬測試秀最新解決方案

    2017年韓國國際半導體展SEMICON Korea今(8)日起至10日於首爾COEX會展中心舉行,半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest)將透過實際操作及數位圖像說明,展示各式SoC與記憶體系統測試解決方案,並為今晚歡迎晚宴的白金級贊助商。 \n \n愛德萬測試指出,此次將展示專為韓國市場設計的最新測試解決方案,和已通過嚴謹測試的產品。主打產品與服務包括領先業界的測試與測量平台、能有效提升效能的模組和通道卡、電子束光刻與計量掃描式電子顯微鏡系統、性能測試用基板、燒機測試基板和探針卡。 \n \n而韓國愛德萬測試SoC部門主任Jeongseob Kim亦將在明(9)日的測試論壇中,發表「於ATE系統測試IoT模組的挑戰」技術論文。與會貴賓將可透過現場展示、數位圖像及深入的演講內容,進一步了解愛德萬測試的技術內涵,以及最新發表的創新IC測試技術。

  • 《科技》東京半導體展,愛德萬測試秀物聯網應用

    SEMICON Japan東京國際半導體展即將於14~16日在東京國際展示場登場,半導體設備測試供應商愛德萬測試(Advantest)將針對物聯網各式應用,展示業界最廣泛的測試解決方案。同時,愛德萬測試今年仍將擔任該展會的黃金贊助商。 \n \n愛德萬測試表示,包括最新的測試解決方案到旗下獲得業界肯定的產品,都將展示於位在第二展館的#2445攤位。展出產品將分成工業、無線/穿戴式裝置、智慧家居、連網汽車等物聯網應用常見的四大類型。 \n \n而愛德萬測試的特色產品與服務,將包括領先業界的測試與測量平台、提高效能的模組與通道卡、電子束測量與光刻工具、測試分類機、可供下載的測試程式、燒機測試系統、探針卡與現場服務。 \n \n同時,愛德萬測試也將透過現場與虛擬實境展示及數位繪圖提供技術見解,與會來賓可藉此獲悉愛德萬測試在全球各地推出的所有最新IC測試創新技術。 \n \n愛德萬測試全球行銷傳播副總裁Judy Davies表示,公司致力於提供客戶物聯網世界所需的量測解決方案及所有相關產品,今年度SEMICON Japan展覽會上的展出將體現此承諾,提供舊雨新知兼顧娛樂與知識的體驗。 \n \n而在15日下午2點20分的自駕與車連網論壇上,愛德萬測試ASD測試與量測事業群副總裁Shin Kimura亦將於會議大樓的A接待廳發表「物聯網社會與測試技術」的技術論文。除了發表論文,愛德萬亦為此論壇的贊助商。

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