《科技》东京半导体展 爱德万测试秀多元解决方案

爱德万测试此次展示的最新产品，包括系统单晶片（SoC）测试系统，影像、数位、电源供应扩充模组，整合预烧（burn-in）和记忆格（memory-cell）测试功能的记忆体测试机，以及爱德万测试云端解决方案（Cloud Solutions）等。

爱德万测试此次亦赞助「SMART行动力」及「SMART劳动力」议程，以及专为学子开设的「未来学院」。执行董事津久井幸一将于「SMART行动力」议程中致词，并邀请博世（Bosch）和MIRISE Technologies高层，探讨自动驾驶和半导体科技演进。

而17日举行的「SEMI企业解决方案」议程，欧洲爱德万测试产品行销主管Markus Knoch将以「百万兆级运算时代下的测试作业」为题发表演说，探讨未来高效能运算元件测试可能面临的挑战，并介绍自动测试设备（ATE）如何协助提升从设计到量产的工作流程。