向量网路分析仪（VNA）很早便被广泛应用于评估毫米波和高频领域各类材料之传输特性（穿透率、反射率）与复杂的介电常数，不过近年来，在更广频宽进行这些特性评估的需求更为重要，因此VNA花费在测定与校准每一个频段的时间与工夫逐渐成为需要检讨的课题。
爱德万测试的太赫兹光学取样系统，透过对广泛频段进行批次测量以及脉衝电磁波的运用，能解决上述问题。现在，只要一套小巧的光学取样系统（测量环境）就能执行测量任务，既经济又省空间；还有映射量测选项，能进行材料表面频率特性的分析。不仅如此，TAS7400TS最新选项的频率解析度与扫描速度是之前产品的5倍，也使其成为评估新材料之高频特性最理想的解决方案。
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