愛德萬測試今日舉辦媒體交流會,對於目前測試設備交期狀況,吳萬錕表示仍相當緊繃、至少都要半年以上,主因目前長短料問題仍在,設備商因所需零組件量不大,在前段製造的優先順位較具劣勢,目前仍積極爭取中,預期要到第三季末至第四季較有機會紓緩。
對於先進晶圓測試設備布局方面,吳萬錕指出,3奈米測試需求更為複雜,主因高效運算(HPC)晶片設計複雜度提升,測試時間拉長帶動測試設備需求增加,預期相關設備將自今年起一路準備至明年。
至於市場預期2023~2024年的測試設備需求成長趨緩,吳萬錕表示主要是受先進製程演進時程影響,目前預期2奈米先進製程可能在2024年試產、2025年量產,使測試設備需求可望在2025年恢復成長動能。
對於第三代化合物半導體的發展及測試需求看法,與系統單晶片(SoC)相關的測試需求沒有傳統應用那麼高階,公司目前在國外與大客戶在碳化矽(SiC)領域合作開發中,與台灣廠商尚無相關合作,需求還不太多,認為要實質付諸量產還需要一段時間。
發表意見
中時新聞網對留言系統使用者發布的文字、圖片或檔案保有片面修改或移除的權利。當使用者使用本網站留言服務時,表示已詳細閱讀並完全了解,且同意配合下述規定:
違反上述規定者,中時新聞網有權刪除留言,或者直接封鎖帳號!請使用者在發言前,務必先閱讀留言板規則,謝謝配合。