鴻海科技集團今(21)日宣布,正式推出非監督式學習(Unsupervised Learning)人工智慧(AI)演算法「FOXCONN NxVAE」,運用正面表列的模型訓練方式,只以產品容易取得的正樣本進行光學檢測演算,解決產線中瑕疵樣本取得的問題,適用於良率高的成熟產品線,可增加AI模型的整體容錯能力,此技術已實際導入集團部分產品外觀檢測生產線,成功降低50%以上的產線檢測人力。

鴻海半導體事業群AI團隊歷時八個多月的研發,從架設AOI光學檢測設備,到產線採集產品外觀影像,期間因COVID-19疫情影響,團隊無法親臨產線,改由遠端工作模式,進行影像數據處理與AI演算法的開發與調適,最終研發出非監督式學習AI演算法FOXCONN NxVAE,並已實際應用在鴻海科技集團中國大陸園區內的電子產品外觀檢測產線上。

鴻海半導體事業群晶片與系統方案事業處副總經理劉錦勳指出,鴻海科技集團生產線品質良率早已超過99%,累積的工業數據龐大,除了持續進行品質改善外,也讓AI0得以發揮,助益產業發展。此次AI團隊研發非監督式學習演算法,不僅降低產線新產品導入的陣痛期,也是業界人工智慧發展的重要里程碑。

(工商 )

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